源表SMU在晶体管测试中的应用
现代电性能测量领域广泛使用精密源表进行精确测量。本文将详细介绍SF双通道精密源表，并重点探讨其在晶体管测试中的应用。
什么是源表源表（SourceMeasureUnit，SMU）是一种集成了电流源、电压源、电流表和电压表功能的仪器。它可以在不同象限中独立完成IV测试，并具备多种保护措施，如电压和电流的钳位。SMU广泛应用于电子器件的特性表征、测试等领域，包含测试半导体、分立元器件和无源元器件，精密型电子和绿色能源器件等。
联讯仪器双通道精密源表SF的优势高度集成：双通道综合四象限电源和测量功能，使用单台仪器即可轻松准确地测量电流和电压，而无需手动更改连接。
同步触发：SF支持同步触发，单台仪表即可方便快捷地完成三端口器件表征。
安全保护：SF具备多种保护措施，如电压和电流的钳位，防止待测器件损坏。
高输出能力：SF量程±V、±A(直流)、±10A(脉冲)，单台SMU即可同时满足高电压和大电流测量需求，从而推动测量仪器的标准化，并简化资产管理和支持工作。
轻松快捷的IV表征：SF支持液晶屏和上位机软件操作，用户可以通过前面板或GUI轻松操控。
SF液晶屏界面在液晶屏操作界面上，可以直接选择SMU模式，并设置输出幅度和保护限制。通过扫描参数设置，可以进行电压或电流扫描，并设置扫描条件和模式。此外，SF还支持上位机GUI操作，无需编程即可从PC进行远程测量和控制。
SF液晶屏扫描设置界面晶体管的特性表征主要有以下几个参数需要：MOSFET输出特性曲线
MOSFET输出特性曲线描述当栅-源电压VGS为常量时，漏极电流ID与漏-源电压VDS之间的关系
测试步骤：
设定栅极步进电压VGS
在每个VGS步进电压下，VDS按照设定的范围进行电压扫描
记录每个VDS电压扫描点下的漏极-源极电流
阈值电压VTH
VTH是在VDS为一常量时，漏-源电流大于零所需的最小VGS值
测试步骤：
设定漏-源电压VDS为特定值
在一定范围内扫描VGS，记录扫描过程中的每个点的漏极电流ID
通过线性拟合计算VTH值
低频跨导gm:
gm数值的大小表示VGS对ID控制作用的强弱
当MOSFET工作在恒流区且VDS为常量的条件下，ID的微小变化量DeltaID与引起它变化的DeltaVGS之比，称为低频跨导。即：
gm=DeltaID/DeltaVGS
SF单台仪表即可完成三端口器件表总结精密电源/测量单元SF拥有宽泛的电压源(±V)和电流源(±A直流和±10A脉冲)功能，出色的精度，6位半的显示(最低fA/nV显示分辨率)以及卓越的彩色LCD图形用户界面(GUI)，具有多种基于任务的显示模式，显著提高了测试、调试和表征的效率。是高分辨率，高精度的各种IV(电流与电压)测量任务的理想选择。
更多SMU，请
转载请注明：http://www.abuoumao.com/hykh/7480.html
